型号：ScientaOmicron VT-STM

关键性能参数：

Ø 扫描样品台变温范围：60K~800K

Ø 图像分辨率：z方向0.01nm，XY方向0.1nm

Ø 样品台移动范围：XY方向±4mm

Ø 本底真空：MBE制备室<8.0X10^-11mBar，STM扫描室<5.0x10^-11mBar

Ø 噪音水平：<10 pm @1-5Hz, <2 pm @5Hz以上

应用范围：

Ø 高质量原子分辨图像，观察样品表面形貌特征

Ø 配备氩离子枪和蒸发源，可制备各类样品并原位表征

Ø AFM扫描模式可以对绝缘体材料表面进行表征

设备特色：

Ø 样品台变温范围大，可测试不同温度下样品性能

Ø 大扫描范围和超高分辨

Ø STM和AFM扫描模式切换，适应不同样品类型

Ø 原位样品处理（加热、氩离子轰击）

Ø 配备主动式减震平台和涡流减震系统，系统噪音低

应用领域：

Ø 纳米材料、拓扑绝缘体、半导体、化合物半导体、二维材料和其他先进材料等