一、设备型号、关键性能参数：
型号：ScientaOmicron LT NANOPROBE
关键性能参数：
功能：表面形貌+原位电输运测量
工作压力：UHV
样品台温度:5K- RT
四探针同时可扫描，样品粗动：±4 mm
针尖定位：采用SEM，兼容光学
二、设备原理：
四探针扫描隧道显微镜（4-probe STM），不仅可得到材料表面的高质量原子分辨像，而且还可通过多探针在超高真空条件下直接和样品接触，测量样品的电输运性质。
这种原位的表征手段免去了大气环境对样品的污染，可以得到材料本征的电输运特性。这种原位的原子结构、电子结构和电输运测试相结合的测试技术，对研究低维材料体系、特别是高温超导薄膜、拓扑绝缘体薄膜、二维电子气等有着非常重要的意义。
本实验站4-probe STM配备Q-plus AFM扫描头可满足绝缘材料体系表面结构的表征。
三、应用范围：
高质量原子分辨像，具备STS测试功能；
原位电输运测试；
小磁场下（30mT）的电学性质；
绝缘体材料表面原子结构；
四、设备特色：
4探针样品台温度：<5 K，5 K持续时间为36小时；
XY/Z方向上粗动5 mm×5 mm×3 mm；
大的扫描范围（5 K条件下1µm x1µm）和高的分辨率（XYZ分辨5 K下小于0.01 nm）
小磁场（最大30mT）
样品直接加热温度> 1200℃，间接加热> 900℃；
原位样品处理（加热、氩离子轰击）
原位薄膜样品生长（配备分子束外延腔）
SEM引导针尖，分辨率好于30nm；
样品通常需要表面清洁、平整。
五、应用领域：
超导、拓扑绝缘体、化合物半导体、半导体、二维材料和其他先进材料等领域。
